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INVENIO紅外光譜儀INVENIO 適用于多種應(yīng)用領(lǐng)域及任何行業(yè),從常規(guī)質(zhì)量控制到先進(jìn)的研發(fā)工作。 ![]()
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商品說(shuō)明
創(chuàng)新特性
需求變化,INVENIO 適應(yīng) 您的應(yīng)用程序是衡量事物的尺度,INVENIO 支持您的努力。如果您的分析需求增長(zhǎng),INVENIO 會(huì)跟上。它是您日常分析任務(wù)所需的堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)。 卓越的靈敏度 憑借新穎、高效的光路設(shè)計(jì),以及由先進(jìn)的SoC電子元件控制的精確的光學(xué)系統(tǒng),INVENIO能夠?yàn)槟峁┳罴研阅�,再�?xì)小的光譜細(xì)節(jié)亦無(wú)處可遁。 強(qiáng)大的軟件 OPUS作為紅外分析領(lǐng)域最強(qiáng)大的軟件解決方案之一,能夠簡(jiǎn)化測(cè)量程序,為FTIR初學(xué)者和專家提供支持,提供大量的方法創(chuàng)建成套工具,以及樣品評(píng)估擴(kuò)展功能。 時(shí)刻驗(yàn)證 INVENIO具有完整的自動(dòng)PQ(性能驗(yàn)證)和OQ(操作驗(yàn)證)程序,可在受監(jiān)管的制藥實(shí)驗(yàn)室中進(jìn)行儀器驗(yàn)證 體驗(yàn)質(zhì)量 從耐用的外殼,到擁有無(wú)損耗且精準(zhǔn)的干涉儀,每個(gè)元件均采用最優(yōu)質(zhì)的材料制成。INVENIO經(jīng)久耐用,能夠?yàn)槟峁╅L(zhǎng)達(dá)多年的長(zhǎng)久可用性。 不再受限
更多分析 INVENIO與多種類型的樣品相匹配,僅需幾秒鐘便可切換采樣附件,借助第二個(gè)樣品室,您還能并行采用兩個(gè)實(shí)驗(yàn)設(shè)置。 工作更輕松 為了始終確保最佳的測(cè)量參數(shù),所有核心組件均進(jìn)行了電子編碼。此外,可選的集成式觸屏電腦能夠帶來(lái)絕佳的直觀式用戶體驗(yàn),以及先進(jìn)的聯(lián)網(wǎng)功能。INVENIO非常適用于需要高靈敏度、光譜或時(shí)間分辨率、穩(wěn)定性、靈活性和可升級(jí)性的情景,從而改善您在工業(yè)或研究應(yīng)用領(lǐng)域的日常分析體驗(yàn)。 質(zhì)量控制
材料表征
半導(dǎo)體
研發(fā)
制藥與生命科學(xué)
聚合物和化學(xué)品
環(huán)境
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